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(HT-E01系列)变温克尔(磁光)效应测试系统
磁光效应系统是由电磁铁,电磁铁电源,综合性克尔效应测试仪及光学配件(激光器,检偏器,光阑,聚焦透镜,四分之一波片,光电传感器,电流放大器,光学平台等)是一种基于磁光效应原理设计的高灵敏度磁强计,可以测量软磁,硅钢片,不锈钢,坡莫合金薄膜,硅基镀铝膜,是研究纳米磁性技术,磁阻巨磁阻,磁性薄膜、磁性微结构以及样品磁化强度和样品各向异性理想的测量工具。


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磁光克尔系统测量原理

    当一束线性偏振光打到样品时,如果样品被磁化,那么反射光的偏振面相比入射光偏振面发生一个微小的旋转,这个微小的旋转角度就是科尔角,这种现象就是科尔效应,科尔角与样品被磁化的程度成正比,而科尔角可以通过测量得到的光强计算出来,这样就建立了光强和样品磁化程度之间的关系

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